SSD - 500 Go - interne - 2.5" - SATA 6Gb/s (CT500BX500SSD1)

Fiche technique

Général : Description du produit

Crucial BX500 - SSD - 500 Go - SATA 6Gb/s

Général : Type de périphérique

Lecteur à semi-conducteurs - interne

Général : Garantie du fabricant

Garantie de 3 ans

Garantie du fabricant : Service et maintenance

Garantie limitée - 3 ans

Divers : Normes de conformité

China RoHS, REACH, RoHS, Taiwan BSMI RoHS, FCC, UL, TUV, KCC, BSMI, VCCI, WEEE, ICES, SATA-IO

Caractéristiques d'environnement : Température minimale de fonctionnement

0 °C

Caractéristiques d'environnement : Température maximale de fonctionnement

70 °C

Général : Format

2.5"

Général : Débit de transfert de données

600 Mo/s

Général : Interface

SATA 6Gb/s

Général : Type

Lecteur à semi-conducteurs - interne

Général : Capacité

500 Go

Expansion et connectivité : Interfaces

1 x SATA 6 Gb/s - ATA série de 7 broches

Général : Caractéristiques

Prise en charge TRIM, sans halogène, ECC (Error Correction Code, code de correction d'erreur), Active Garbage Collection, SLC Write Acceleration, Thermal Monitoring, Multistep Data Integrity Algorithm, 3D NAND Technology, micrologiciel pouvant êt
Prise en charge TRIM, sans halogène, ECC (Error Correction Code, code de correction d'erreur), Active Garbage Collection, SLC Write Acceleration, Thermal Monitoring, Multistep Data Integrity Algorithm, 3D NAND Technology, micrologiciel pouvant êt
Prise en charge TRIM, sans halogène, ECC (Error Correction Code, code de correction d'erreur), Active Garbage Collection, SLC Write Acceleration, Thermal Monitoring, Multistep Data Integrity Algorithm, 3D NAND Technology, micrologiciel pouvant êt
Prise en charge TRIM, sans halogène, ECC (Error Correction Code, code de correction d'erreur), Active Garbage Collection, SLC Write Acceleration, Thermal Monitoring, Multistep Data Integrity Algorithm, 3D NAND Technology, micrologiciel pouvant êt
Prise en charge TRIM, sans halogène, ECC (Error Correction Code, code de correction d'erreur), Active Garbage Collection, SLC Write Acceleration, Thermal Monitoring, Multistep Data Integrity Algorithm, 3D NAND Technology, micrologiciel pouvant êt
Prise en charge TRIM, sans halogène, ECC (Error Correction Code, code de correction d'erreur), Active Garbage Collection, SLC Write Acceleration, Thermal Monitoring, Multistep Data Integrity Algorithm, 3D NAND Technology, micrologiciel pouvant êt
Prise en charge TRIM, sans halogène, ECC (Error Correction Code, code de correction d'erreur), Active Garbage Collection, SLC Write Acceleration, Thermal Monitoring, Multistep Data Integrity Algorithm, 3D NAND Technology, micrologiciel pouvant êt
Prise en charge TRIM, sans halogène, ECC (Error Correction Code, code de correction d'erreur), Active Garbage Collection, SLC Write Acceleration, Thermal Monitoring, Multistep Data Integrity Algorithm, 3D NAND Technology, micrologiciel pouvant êt
Prise en charge TRIM, sans halogène, ECC (Error Correction Code, code de correction d'erreur), Active Garbage Collection, SLC Write Acceleration, Thermal Monitoring, Multistep Data Integrity Algorithm, 3D NAND Technology, micrologiciel pouvant êt
Prise en charge TRIM, sans halogène, ECC (Error Correction Code, code de correction d'erreur), Active Garbage Collection, SLC Write Acceleration, Thermal Monitoring, Multistep Data Integrity Algorithm, 3D NAND Technology, micrologiciel pouvant êt
Prise en charge TRIM, sans halogène, ECC (Error Correction Code, code de correction d'erreur), Active Garbage Collection, SLC Write Acceleration, Thermal Monitoring, Multistep Data Integrity Algorithm, 3D NAND Technology, micrologiciel pouvant êt
Prise en charge TRIM, sans halogène, ECC (Error Correction Code, code de correction d'erreur), Active Garbage Collection, SLC Write Acceleration, Thermal Monitoring, Multistep Data Integrity Algorithm, 3D NAND Technology, micrologiciel pouvant êt
Prise en charge TRIM, sans halogène, ECC (Error Correction Code, code de correction d'erreur), Active Garbage Collection, SLC Write Acceleration, Thermal Monitoring, Multistep Data Integrity Algorithm, 3D NAND Technology, micrologiciel pouvant êt
Prise en charge TRIM, sans halogène, ECC (Error Correction Code, code de correction d'erreur), Active Garbage Collection, SLC Write Acceleration, Thermal Monitoring, Multistep Data Integrity Algorithm, 3D NAND Technology, micrologiciel pouvant êt

Performances : Débit de transfert du lecteur

600 Mo/s (externe)

Performances : Débit de transfert interne

550 Mo/s (lecture) / 500 Mo/s (écriture)

Expansion et connectivité : Baie compatible

2.5"

Performances : Endurance SSD

120 TB

Logiciels & Configuration requise : Logiciel(s) inclus

Acronis True Image

Références spécifiques

UPC

649528929693

MPN

CT500BX500SSD1